光学法检测超精加工面表面粗糙度的新进展

• 作者: 杨国成
• 来源期刊: 光电子技术与信息
• 学科: 工学
• 关键词: 光学法 测量 表面粗糙度
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TG84
• 字数: 2386字
• 语种: 中文

摘要

本文针对超精加工面的测量特点,介绍近年来光学法检测表面粗糙度的进展.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨国成	华侨大学机电系	2	7	1.0	2.0