面向机加工表面粗糙度的光切显微视觉测量系统

• 作者: 田明锐 范荻 金守峰 陈蓉
• 来源期刊: 西安工程大学学报
• 关键词: 表面粗糙度 光切显微镜 Zernike 矩 亚像素 最小二乘中线
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 机电工程
• 页码范围: 347-353
• 页数: 7页
• 分类号: TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.13338/j.issn.1674-649x.2016.03.013

摘要

为解决光切显微镜测量机加工表面粗糙度的测量精度不高、效率低的问题，在光切法测量原理的基础上，开发了基于光切显微镜的表面粗糙度视觉测量系统.通过视觉传感器获取机加工表面的微观轮廓图像，提出了基于 Zernike 矩的轮廓亚像素边缘检测算法，建立了最大类间方差法与传统 Zernike 矩相结合的模型，提高了轮廓亚像素边缘点的定位精度.采用最小二乘拟合法确定了轮廓基准中线，根据表面粗糙度的国家标准建立了轮廓算术平均偏差 Ra 的数学模型，实现了机加工表面粗糙度的测量.结果表明，机加工表面精度等级在7~10级时，所测量表面粗糙度的相对误差不超过5%，算法耗时约15ms.该测量系统具有较好的精度和实时性，提高了测量效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田明锐	长安大学高速公路施工机械陕西省重点实验室	13	56	4.0	6.0
2	金守峰	西安工程大学机电工程学院	56	182	7.0	10.0
3	陈蓉	西安工程大学机电工程学院	3	20	3.0	3.0
4	范荻	西安工程大学机电工程学院	5	25	3.0	5.0