开关级扫描设计方法研究

• 作者: 李少青
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性 扫描设计 CMOS电路 VLSI
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 故障诊断与测试
• 页码范围: 77-79
• 页数: 3页
• 分类号: TP333.5+2
• 字数: 2027字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2001.05.020

摘要

本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题,给出了一种开关级扫描插入方法,较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题,改进了测试时间问题.该方法对门级扫描设计有指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李少青	国防科技大学计算机学院	19	94	5.0	8.0