电介质薄膜中的稳态导热与法向导热系数的尺寸效应

• 作者: 冯晓利 李志信 肖鹏 过增元
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 分子动力学 导热系数 电介质薄膜 尺寸效应
• 年，卷（期）: 2001,（11）
• 页码范围: 1180-1183，1192
• 页数: 5页
• 分类号: TK124
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-987X.2001.11.020

摘要

通过非平衡分子动力学(NEMD)模拟预报了纳米电介质薄膜的法向导热系数.采用各向异性的非平衡分子动力学方案模拟了固体氩薄膜中垂直于膜平面的稳态导热,考察了对应于平均温度为45 K的薄膜法向导热系数与膜厚度的关系.在氩薄膜厚度为2.124～10.62 nm的范围内,薄膜法向导热系数显著低于相同温度下的大体积材料的实验值,并随膜厚度的减小而降低,具有显著的尺寸效应.在弛豫时间近似条件下得到的声子Boltzmann输运方程的近似解表明,该尺寸效应归因于纳米薄膜的边界对载热声子散射作用的增强.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	过增元	清华大学工程力学系	149	3472	29.0	55.0
2	李志信	清华大学工程力学系	83	1232	20.0	32.0
3	肖鹏	清华大学工程力学系	4	33	3.0	4.0
4	冯晓利	清华大学工程力学系	6	95	4.0	6.0