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摘要:
在n+-GaAs(100)衬底上由分子束外延技术(MBE)生长了以[GaAs/AlAs]超晶格替代AlxGa1-xAs所形成的新型AlAs/[GaAs/AlAs]半导体/超晶格分布布拉格反射镜(DBR),并对此DBR的光、电学特性进行了实验测量.从实验获得的DBR的反射谱中得出,其反射谱中心波长为850nm,19周期此DBR的峰值反射率高达99.5%,反射带宽度为90nm左右.与此同时,由自行设计的二次钨丝掩模质子注入形成15×15μm2正方形电流注入区对p型DBR的串联电阻进行了测量,克服了化学湿腐蚀法中腐蚀深度不易控制及侧面同时被腐蚀的缺点.实验得出此p型DBR的串联电阻仅为50Ω左右.由此可见,此DBR在保持高的反射率的同时具有较低的串联电阻.最后,对DBR的串联电阻与温度关系的实验研究表明,此DBR的串联电阻受温度的影响不大.
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文献信息
篇名 半导体/超晶格分布布拉格反射镜的特性研究
来源期刊 发光学报 学科 物理学
关键词 分布布拉格反射镜(DBR) 超晶格 分子束外延(MBE) 反射谱 串联电阻
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目 研究报告
研究方向 页码范围 289-293
页数 5页 分类号 O472.3
字数 3286字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-7032.2001.03.017
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研究主题发展历程
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超晶格
分子束外延(MBE)
反射谱
串联电阻
研究起点
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