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摘要:
通过FT-IR、XPS和荧光光谱研究了离子注入对纳米Si3N4结构的影响.发现离子注入改变了材料中游离硅(a-Si)的结构,使其变成了SiNn(n=1,2).荧光谱研究表明纳米Si3N4具有明显的量子限制效应,并且荧光峰的位置和强度存在不稳定性.根据实验结果给出了纳米Si3N4的能级结构图.
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文献信息
篇名 离子注入对纳米Si3N4结构的影响
来源期刊 无机材料学报 学科 工学
关键词 量子限制效应 荧光不稳定 离子注入 纳米Si3N4
年,卷(期) 2001,(2) 所属期刊栏目 简报
研究方向 页码范围 369-372
页数 4页 分类号 TQ174
字数 2376字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-324X.2001.02.029
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李道火 中国科学院安徽光学精密机械研究所 25 254 10.0 15.0
2 赵华珍 中国科学院安徽光学精密机械研究所 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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1992(1)
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2001(0)
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研究主题发展历程
节点文献
量子限制效应
荧光不稳定
离子注入
纳米Si3N4
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
无机材料学报
月刊
1000-324X
31-1363/TQ
16开
上海市定西路1295号
4-504
1986
chi
出版文献量(篇)
4760
总下载数(次)
8
总被引数(次)
61689
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