边界扫描测试的原理及应用设计

• 作者: 宋克柱 杨小军 王砚方
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描测试 JTAG控制 状态机 可编程逻辑器件
• 年，卷（期）: 2001,（10）
• 所属期刊栏目: 计算机应用
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 2031字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2001.10.011

摘要

文章介绍了边界扫描测试的原理,分析了联合测试行动组JTAG控制器的逻辑状态,并给出了JTAG测试具体应用的VHDL原代码和逻辑仿真波形.利用JTAG接口可以方便地进行复杂IC芯片连接的故障定位,灵活控制IC芯片进入特定的功能模式等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王砚方	中国科学技术大学近代物理系	58	667	12.0	24.0
2	宋克柱	中国科学技术大学近代物理系	49	565	11.0	22.0
3	杨小军	中国科学技术大学近代物理系	31	240	7.0	14.0