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摘要:
红外焦平面阵列探测器广泛应用于红外成像制导系统.但焦平面阵列的非均匀性校正技术与探测器的性能息息相关,因此必须进行非均匀性校正.在众多非均匀校正方法中,两点法和时间高通自适应方法是两种最典型的方法.文中对这两种方法分别进行了分析,并对一般的时间高通自适应非均匀校正法提出了改进,以达到更好的校正效果.
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内容分析
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文献信息
篇名 红外焦平面阵列非均匀校正技术研究
来源期刊 国防科技大学学报 学科 工学
关键词 红外探测器 焦平面阵列 两点法 非均匀校正 时间高通法
年,卷(期) 2001,(5) 所属期刊栏目 机电工程·应用物理
研究方向 页码范围 122-125
页数 4页 分类号 TJ765.3+3
字数 2213字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2486.2001.05.027
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 沈振康 国防科技大学电子科学与工程学院 18 242 9.0 15.0
2 李飚 国防科技大学电子科学与工程学院 11 108 5.0 10.0
3 王平 国防科技大学电子科学与工程学院 11 97 5.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
红外探测器
焦平面阵列
两点法
非均匀校正
时间高通法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国防科技大学学报
双月刊
1001-2486
43-1067/T
大16开
湖南省长沙市开福区德雅路109号
42-98
1956
chi
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