CTIA型红外焦平面阵列非均匀性研究

• 作者: 王巍 王晶 王锦春
• 来源期刊: 航空兵器
• 学科: 工学
• 关键词: 非均匀性 CTIA 读出电路 红外焦平面阵列
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 红外与激光技术
• 页码范围: 14-16
• 分类号: TN215
• 字数: 1936字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5048.2011.03.004

摘要

根据CTIA型红外焦平面阵列的工作原理,分析了非均匀性的来源:探测器芯片、CTIA运算放大器的输入失调电压以及读出电路的积分电容.对这几种因素造成的非均匀性进行了分析、计算和实际测试.最后,提出了使焦平面阵列非均匀性最佳的探测器工作偏置区间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王巍		15	76	5.0	8.0
2	王锦春		5	5	2.0	2.0
3	王晶		2	8	2.0	2.0