双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计

• 作者: 杨大磊 王志远 王晓辉 蒋大文 谢驰
• 来源期刊: 四川大学学报(工程科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 表面粗糙度 双管显微镜 粗糙度评定参数
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 2001年十省市区机械工程学会学术年会论文
• 页码范围: 98-101
• 页数: 4页
• 分类号: TH741.3
• 字数: 2256字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-3087.2001.05.026

摘要

介绍了用双管显微镜测量轮廓线坐标值的方法,同时,设计了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序.从而,扩大了只用于测量单参数的表面粗糙度检查仪的使用功能,以满足表面粗糙度国家标准所规定的评定参数的要求.还给出了程序流程图.实验表明,该方法具有精度高和速度快的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢驰	四川大学测试技术与控制工程系	69	407	12.0	16.0
2	蒋大文	四川大学测试技术与控制工程系	13	46	4.0	5.0
3	王晓辉	四川大学测试技术与控制工程系	29	215	9.0	14.0
4	杨大磊	四川大学测试技术与控制工程系	3	11	3.0	3.0
5	王志远	四川大学测试技术与控制工程系	11	32	4.0	4.0