能量范围从20ke到34kev的锆元素K壳层电离截面

• 作者: 付玉川 周长庚 安竹 罗正明
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 电离截面 电子碰撞 电子输运
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 117-119
• 页数: 3页
• 分类号: O562.4
• 字数: 1685字
• 语种: 中文

摘要

用20～34keV能量的电子束轰击锆靶，从而测得锆元素的K壳层电离截面。这些数据是国际上首次报道。在实验中采用电子输运双群模型修正了由厚衬底产生的反射电子对计数的影响。同时用蒙特-卡罗EGS4程序计算了电子在质量厚度为24.3μgcm2的锆靶中的平均路径长度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周长庚		3	4	1.0	2.0
2	付玉川	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	1	0	0.0	0.0
3	安竹	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	1	0	0.0	0.0
4	罗正明	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	1	0	0.0	0.0