高反射硅镜弱吸收的研究

• 作者: 李庆国 王英剑 胡海洋 范正修
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 表面热透镜技术 原子力显微镜 弱吸收
• 年，卷（期）: 2001,（10）
• 所属期刊栏目: 光学薄膜
• 页码范围: 937-940
• 页数: 4页
• 分类号: O484.4+1
• 字数: 2555字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2001.10.019

摘要

运用表面热透镜技术精确测量1315 nm高反射硅镜的弱吸收,并结合原子力显微镜所显示的薄膜表面情况判断引起吸收的原因,为工艺上减少吸收降低损耗提供测量保证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范正修	中国科学院上海光机所	203	2312	23.0	32.0
2	王英剑	中国科学院上海光机所	21	254	11.0	15.0
3	胡海洋	中国科学院上海光机所	15	281	8.0	15.0
4	李庆国	中国科学院上海光机所	5	84	4.0	5.0