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用表面热透镜技术测量1 31 5nm高反射硅镜弱吸收的研究
用表面热透镜技术测量1 31 5nm高反射硅镜弱吸收的研究
作者:
李庆国
王英剑
胡海洋
范正修
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
表面热透镜技术
弱吸收
摘要:
运用表面热透镜技术精确测量了1315 nm高反射硅镜的弱吸收,判断引起吸收的原因,从而为工艺上减少吸收降低损耗提供了保证.
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关键词热度
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文献信息
篇名
用表面热透镜技术测量1 31 5nm高反射硅镜弱吸收的研究
来源期刊
强激光与粒子束
学科
工学
关键词
表面热透镜技术
弱吸收
年,卷(期)
2000,(z1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
87-90
页数
4页
分类号
TN246|O484.4
字数
2009字
语种
中文
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节点文献
表面热透镜技术
弱吸收
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
强激光与粒子束
主办单位:
中国工程物理研究院
中国核学会
四川核学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-4322
CN:
51-1311/O4
开本:
大16开
出版地:
四川绵阳919-805信箱
邮发代号:
62-76
创刊时间:
1989
语种:
chi
出版文献量(篇)
9833
总下载数(次)
7
总被引数(次)
61664
相关基金
国家高技术研究发展计划(863计划)
英文译名:
The National High Technology Research and Development Program of China
官方网址:
http://www.863.org.cn
项目类型:
重点项目
学科类型:
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