表面热透镜技术测量光学薄膜样品表面热变形

• 作者: 刘明强 李斌成 王艳茹
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 热变形 光学薄膜样品 表面热透镜 吸收 探测灵敏度
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 1805-1809
• 分类号: O484.5
• 字数: 2869字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB201002208.1805

摘要

给出了连续调制激励光照射下光学薄膜样品表面热变形场的理论分布,并由此定义了表面热透镜(STL)信号.根据表面热透镜理论实验测量了一个BK7基底高反膜样品的形变,给出了表面热透镜信号随调制频率的变化曲线.实验结果表明:在采用的STL实验构型中,探测了最小1.985 nm的直流形变,对应不调制时的形变为3.97 nm,相应的形变探测灵敏度达到了10 pm量级;直流形变与功率成线性关系;交流表面热透镜信号随着频率增大而减小,在高频端近似成线性减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李斌成	中国科学院光电技术研究所	45	325	10.0	15.0
2	刘明强	中国科学院光电技术研究所	6	51	5.0	6.0