表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实蜒

• 作者: 范树海 范正修 贺洪波 赵元安 邵建达
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 吸收测量 表面热透镜 光热形变 薄膜
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:结构、热学和力学性质
• 页码范围: 5774-5777
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 2799字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.12.047

摘要

由薄膜表面光热形变简化理论和表面热透镜衍射理论导出表面热透镜信号表达式,从理论上证明了表面热透镜信号和薄膜吸收率的线性关系.应用表面热透镜技术研制了薄膜吸收测量仪,测量结果表明其吸收率测量灵敏度和精度均达10-6量级.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邵建达	中国科学院上海光学精密机械研究所	212	2131	21.0	29.0
2	范正修	中国科学院上海光学精密机械研究所	203	2312	23.0	32.0
3	贺洪波	中国科学院上海光学精密机械研究所	48	491	16.0	19.0
4	赵元安	中国科学院上海光学精密机械研究所	47	315	11.0	15.0
8	范树海	中国科学院上海光学精密机械研究所	6	134	5.0	6.0