10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量

• 作者: 张彬 杨富 蔡邦维 黄伟 齐文宗
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 表面热透镜技术 微弱吸收 光学薄膜 10.6μm CO2激光
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 高功率激光与光学
• 页码范围: 277-280
• 页数: 4页
• 分类号: O432.2
• 字数: 2954字
• 语种: 中文

摘要

建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置,对10.6μm CO2激光辐照下镀制在Ge基底上的不同厚度的单层ZnS,YbF3薄膜,以及镀制在Ge基底上不同膜系的(YbF3/ ZnSe)多层分光膜的弱吸收进行了测量,并对实验结果作了分析和讨论.实验结果表明,利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10-4,测量系统的灵敏度为10-5.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张彬	四川大学电子信息学院	219	1042	16.0	21.0
2	蔡邦维	四川大学电子信息学院	66	756	15.0	24.0
3	齐文宗	四川大学电子信息学院	30	289	12.0	15.0
4	黄伟	四川大学电子信息学院	71	294	11.0	14.0
8	杨富	四川大学电子信息学院	28	97	6.0	8.0