高重复频率DPL激光辐照光学薄膜元件温升规律实验研究

• 作者: 代福 曹燕 牛锦超 龚自正
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 脉冲激光重复频率 红外热像仪 热导率 吸收峰值功率密度 光学薄膜
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 空间碎片模拟与防护技术
• 页码范围: 232-235
• 页数: 4页
• 分类号: O484.4
• 字数: 2265字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2009.03.008

摘要

光学薄膜是激光系统中最易损坏的薄弱环节.在高重复频率脉冲激光辐照下光学薄膜表面温度急剧上升,导致膜层应力、结构发生变化,最后出现宏观的灾难性损伤.文章采用红外热像仪实时测量了重复频率10kHz的DPL脉冲激光辐照下光学薄膜元件表面激光辐照中心点的温度变化,分析了影响薄膜元件温度变化的众多因素.结果表明,采用热导率较大的材料作基板的薄膜样品表面的温升较低;基板厚度越大的薄膜样品表面温升越低;薄膜表面激光辐照中心点的温度与样品的吸收峰值功率密度呈线性关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚自正		55	354	9.0	16.0
2	代福		6	68	5.0	6.0
3	曹燕		19	152	6.0	12.0
4	牛锦超		10	79	5.0	8.0