表面热透镜技术测量3.8μm和2.8μm激光薄膜的微弱吸收

• 作者: 凌秀兰 张彬 杨富 江腾蛟 蔡邦维 黄伟 齐文宗
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 表面热透镜技术 3.8μm激光 2.8μm激光 微弱吸收 光学薄膜
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 高功率激光与光学
• 页码范围: 1497-1500
• 页数: 4页
• 分类号: O432.2
• 字数: 3008字
• 语种: 中文

摘要

采用表面热透镜技术,对3.8μm和2.8μm激光辐照下镀制在Si基底上的单层ZnS,YbF3和YBC薄膜及不同膜系的YbF3/ZnS多层分光膜和多层高反膜,以及镀制在CaF2基底上的增透膜进行了吸收测量,并对3.8μm和2.8μm激光的测量结果进行了比较分析.实验结果表明,2.8μm波长下的吸收比3.8μm的大得多,两者之间约相差一个量级,测得的多层高反膜YbF3/ZnS薄膜在的3.8μm处的最低吸收为4.57×10-4,测量系统的灵敏度约为10-5.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张彬	四川大学电子信息学院	219	1042	16.0	21.0
2	蔡邦维	四川大学电子信息学院	66	756	15.0	24.0
3	齐文宗	四川大学电子信息学院	30	289	12.0	15.0
4	杨富	河北北方学院物理系	28	97	6.0	8.0
5	江腾蛟	四川大学电子信息学院	1	12	1.0	1.0