托卡马克逃逸电子输运系数的研究

• 作者: 丁玄同 郑永真 郦文忠 齐昌炜
• 来源期刊: 中国学术期刊文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 逃逸电子输运 扩散系数 内部磁涨落
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 752-759
• 页数: 8页
• 分类号: TL612.3
• 语种: 中文

摘要

采用磁扰动实验和稳态实验等四种不同方法获得某些局域的逃逸扩散系数Dr,首先利用等离子体快速移动实验,测量孔栏上硬X-射线通量的变化,获得边缘扩散系数;第二,软X-射线(SXR)强度和硬X-射线通量(HXR)的信号的锯齿振荡的峰值延迟时间给出径向平均扩散系数;第三,由微波辐射强度和硬X-射线通量(HXR)的信号的锯齿振荡的峰值延迟时间获得径向位置某处到孔栏之间平均扩散系数;第四,由来自孔栏上韧致辐射谱求得逃逸电子平均能量,继尔得到逃逸约束时间,获得径向平均扩散系数.从实验中得出逃逸电子扩散系数的径向近似分布和内部磁扰动的径向分布.