系统级BIT设计中的测试选择方法

• 作者: 张春华 易晓山 胡政 黎琼炜
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 系统级BIT 测试选择 信息熵 故障概率
• 年，卷（期）: 2001,（19）
• 所属期刊栏目: 学术探讨
• 页码范围: 127-129,153
• 页数: 4页
• 分类号: TP39
• 字数: 4350字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2001.19.043

摘要

根据系统级BIT设计的要求,明确了系统级BIT设计中测试选择所需解决的问题,提出了测试选择的基本思想;在此基础上,利用系统级故障隔离的间接熵法实现了系统级BIT设计中的测试选择,并引入测试时间和故障发生频率参数对间接熵法进行了修正,获得了可以较快地判断系统是否可用并隔离大概率故障的测试集.理论分析及实验数据表明,该文提出的系统级BIT设计中测试选择方法是有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡政	国防科学技术大学机电工程与自动化学院可靠性研究室	22	242	10.0	15.0
2	张春华	国防科学技术大学机电工程与自动化学院可靠性研究室	19	555	13.0	19.0
3	易晓山	国防科学技术大学机电工程与自动化学院可靠性研究室	4	37	3.0	4.0
4	黎琼炜	国防科学技术大学机电工程与自动化学院可靠性研究室	1	16	1.0	1.0