数字电路测试生成的可满足性方法研究

• 作者: 曾成碧 陈光
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 控制输入跟踪算法 测试生成 数字电路
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TH7
• 字数: 3336字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2001.01.008

摘要

本文介绍了可满足性的测试向量生成(SAT-ATPG)算法。通过控制输入跟踪算法(CITA)嵌入SAT-ATPG中，减少了CNF的构成时间和搜索空间，加速测试生成，减轻故障压缩工作量，又不损失最终测试集的精简。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾成碧	四川大学电气信息学院	70	617	12.0	22.0
2	陈光	电子科技大学CAT室	11	94	6.0	9.0