半导体物理

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体物理 表面极化子 热载流子 会议录 基态能量 瞬态特性 热性能 管理模拟 冷却材料 热测量
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 页码范围: 27-28
• 页数: 2页
• 分类号: TN

摘要

【正】 Y2000-62542 01057122000年 IEEE 第16届半导体热测量与管理年会会议录=2000 IEEE 16th annual semiconductor thermal mea-surement & management symposuim[会,英]/IEEE.—2000.—298P.(PC)本次会议由 IEEE 主办,于2000年3月21～23日在 San Jose,CA 双树宾馆召开。该会议录共收录30多篇论文。内容涉及先进的冷却器件,热管理模拟,组件热性能。电子学冷却材料。组件热瞬态特性,以及散热片性能与特征等。0105713GaSh 半导体表面极化子基态能量的研究[刊]/李子军//半导体杂志—2000.25(4).—1～4,11(D)