电子设备环境温度试验方法的研究

• 作者: 周新力 王好同 金慧琴
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电子设备 环境温度 工作温度 失效温度
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 页码范围: 47-51
• 页数: 5页
• 分类号: TN0
• 字数: 2443字
• 语种: 中文

摘要

电子设备的高低温试验是电子设备生产定型的依据之一,在实际应用中单纯的高低温试验并不能完全体现出电子设备对环境温度的适应性,因此必须进行整个环境温度的适应性试验.本文根据电子设备环境温度试验中出现的问题,提出了电子设备环境温度试验的方法,此方法同样适用于电子设备的维修.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周新力	海军航空工程学院通信与导航教研室	128	439	10.0	14.0
2	金慧琴	海军航空工程学院通信与导航教研室	47	182	7.0	11.0
3	王好同	海军航空工程学院通信与导航教研室	14	57	5.0	7.0