信息技术设备发热试验浅谈

• 作者: 张跃亭
• 来源期刊: 安全与电磁兼容
• 关键词: 发热试验 正常负载 温度或温升
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 测试与测量
• 页码范围: 34-36
• 页数: 3页
• 字数: 4005字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9776.2002.01.011

摘要

本文论述了信息技术设备正常工作时,影响设备及其零部件温度或温升的有关因素,以及如何准确完成发热试验.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张跃亭		3	0	0.0	0.0