掠出射X射线荧光分析

• 作者: 尼启良 巩岩 曹建林 王兆岚 陈波
• 来源期刊: 物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 掠出射X射线荧光 荧光分析 全反射X射线荧光 痕量分析
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 167-170
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 3247字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0379-4148.2002.03.010

摘要

掠出射X射线荧光分析技术是全反射X射线荧光分析技术的延伸和发展,文章介绍了掠出射X射线荧光分析技术的形式、特点、基本原理和作者在实验室搭建的实验装置,简述了掠出射X射线荧光分析技术的发展史,以及该技术在化学元素微量和痕量分析及薄膜特性分析等领域中的应用,展望了这种技术今后的发展前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈波	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	167	1116	17.0	24.0
2	巩岩	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	72	423	13.0	17.0
3	尼启良	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	35	217	8.0	13.0
4	曹建林	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	2	16	2.0	2.0
5	王兆岚	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	4	37	3.0	4.0