SiO2点阵参数精确测量

• 作者: 吴万国 陈之荣 黄清明
• 来源期刊: 福建分析测试
• 学科: 化学
• 关键词: X射线 内标法 点阵参数
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 1526-1527
• 页数: 2页
• 分类号: O6
• 字数: 1124字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-8143.2002.01.013

摘要

本文介绍了点阵参数精确测量的用途,具体方法,并用实例加以说明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈之荣		17	20	3.0	4.0
2	吴万国		15	119	5.0	10.0
3	黄清明		33	248	9.0	15.0