D+和D0介子的φXl+υ遍举分支比上限的测定

• 作者: 初元萍 卞建国 宫鸣宇AAS 富洪玉 崔象宗 常劲帆 戴又善 房双世 杜志珍 班勇 白景芝 符力平 董燎原 蔡啸 迟少鹏 陈元柏 陈和生 陈宏芳 陈杰 陈江川 高原宁 高翠山
• 来源期刊: 高能物理与核物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 北京谱仪 北京正负电子对撞机 D介子 半轻子衰变 分支比
• 年，卷（期）: 2002,（11）
• 所属期刊栏目: 粒子与场
• 页码范围: 1093-1102
• 页数: 10页
• 分类号: O4
• 字数: 4241字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3052.2002.11.001

摘要

利用北京谱仪(BES)在北京正负电子对撞机(BEPC)e+e-质心系能量为4.03GeV处采集的积分亮度为22.3pb-1的数据,从D介子的5个非轻子衰变模式中共选出2471±218组tagD+X(X可能是γ或π0或π±)和7629±251组tagD0X介子样本. 在这些样本中没有找到D+→φe+υ,φK-π+e+υ,和D0→φK-e+υ,φK-μ+υ的衰变事例,测定在90髎置信度下分支比的上限分别为B(D+→φe+υ)<1.38髎,B(D+→φK-π+e+υ)<2.01髎,B(D0→φK-e+υ)<0.53髎,和B(D0→φK-μ+υ)<0.53髎.