航天单粒子事件故障注入系统研究

• 作者: 刘海涛 李华旺 杨根庆
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子事件 故障注入 双端口RAM 测试 容错
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 光电技术与材料
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: TN209|V448.15
• 字数: 2366字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2002.01.013

摘要

本文介绍了一种基于内存故障注入和总线故障注入相结合的单粒子事件故障注入系统.首先介绍了故障注入系统的功能及框架,然后以通用性和可扩展性为前提,对实现故障注入器的关键技术进行了探讨.测试结果表明,利用本文介绍的故障注入系统,具有成本低、通用性强、故障注入方便快捷、全动态实时和定量注入等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘海涛	中国科学院上海冶金研究所传感技术国家重点实验室	121	805	17.0	22.0
2	杨根庆	中国科学院上海冶金研究所传感技术国家重点实验室	56	365	11.0	15.0
3	李华旺	中国科学院上海冶金研究所传感技术国家重点实验室	33	176	8.0	11.0