测定膜基界面结合能的努氏印痕能量法

• 作者: 姚伟 孙泽明 朱其芳 李东飞 王福生 邵贝羚
• 来源期刊: 中国有色金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: 涂层 断裂表面能 努氏界面印痕
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 材料科学与工程
• 页码范围: 315-318
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.51
• 字数: 2201字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-0609.2002.02.023

摘要

研究了涂层与基体界面结合能的测定方法, 用理论和实验技术分析了努氏界面印痕法加载过程中, 膜基试样吸收外加能量而转化为塑性变形能的行为、以及表面形状改变能和涂层界面断裂表面能, 建立了努氏界面印痕能量法. 对铁基Ni/Fe、镍基Cu/Ni低压等离子喷涂涂层进行界面结合强度的研究和分析得到涂层界面的断裂表面能. 铁基纯镍Ni/Fe涂层界面的断裂表面能比镍基铜Cu/Ni涂层的高. 界面微观分析表明: 镍基铜Cu/Ni涂层材料疏松, 膜基界面存在较多裂纹, 涂层和基体中观察不到元素扩散层. Ni/Fe涂层界面结合致密, 约有2μm的元素扩散层, 微观分析现象与界面结合能的测定结果吻合.