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电子产品可靠性与环境试验期刊
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最坏情况电路分析(WCCA)
最坏情况电路分析(WCCA)
作者:
王蓬
王锡吉
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
电路分析
程序与方法
示例与检查
摘要:
阐述了当前可靠性工程中热门的分析技术,为裕度设计与健壮设计提供依据.为了便于操作,给出了分析程序与方法,特别举出分析示例.文中所提出简便检查方法,有独到之处.
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文献信息
篇名
最坏情况电路分析(WCCA)
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
电路分析
程序与方法
示例与检查
年,卷(期)
2002,(2)
所属期刊栏目
电子元器件与可靠性
研究方向
页码范围
1-5
页数
5页
分类号
TN702
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2002.02.001
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王锡吉
深圳市中兴通讯股份有限公司西安研究所
2
17
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王蓬
3
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3.0
传播情况
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引证文献(0)
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程序与方法
示例与检查
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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