原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
阐述了当前可靠性工程中热门的分析技术,为裕度设计与健壮设计提供依据.为了便于操作,给出了分析程序与方法,特别举出分析示例.文中所提出简便检查方法,有独到之处.
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文献信息
篇名 最坏情况电路分析(WCCA)
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 电路分析 程序与方法 示例与检查
年,卷(期) 2002,(2) 所属期刊栏目 电子元器件与可靠性
研究方向 页码范围 1-5
页数 5页 分类号 TN702
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.02.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王锡吉 深圳市中兴通讯股份有限公司西安研究所 2 17 2.0 2.0
2 王蓬 3 37 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
电路分析
程序与方法
示例与检查
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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总被引数(次)
9369
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