基于微处理器的可测性设计

• 作者: 徐国强 王玉艳 章建雄 马鹏
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 微处理器 内建自测试 线性反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2002,（9）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 190-191,252
• 页数: 3页
• 分类号: TP806+.1
• 字数: 2469字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2002.09.074

摘要

由于微处理器结构复杂、测试困难,作者在微处理器设计中插入内建自测试(BIST)电路,对指令译码部件的可编程逻辑阵列(PLA)电路和执行部件的控制只读存储器(CROM)电路进行测试.模拟结果表明,微处理器可分别在测试模式与正常工作模式下运行.在测试模式下,微处理器芯片中近40%的晶体管可用自检办法解决.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章建雄		12	71	6.0	7.0
2	王玉艳		18	106	6.0	9.0
3	马鹏		6	33	4.0	5.0
4	徐国强		3	27	3.0	3.0