电子材料及其元器件的温频特性测试箱

• 作者: 袁战恒 陈云
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 电子材料 片式元件 温频特性 传输线残量
• 年，卷（期）: 2002,（11）
• 页码范围: 41-45
• 页数: 5页
• 分类号: TM935

摘要

介绍一种电子材料及元器件的片式样品温频特性测量用的测试箱，该测试箱不仅能够实现-150℃～+250℃的线性变温或定点恒温测试，而且可以消除仪器到试样的引线传递误差和干扰误差，在给定测试范围内实现稳定、可靠的测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁战恒	西安交通大学电信学院电子工程系	17	38	4.0	5.0
2	陈云	西安交通大学电信学院电子工程系	2	0	0.0	0.0