消除CPLD/FPGA器件设计中的毛刺

• 作者: 何伟 张玲
• 来源期刊: 重庆大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 毛刺 竞争与冒险 复杂可编程逻辑器件 现场可编程门列阵 电子设计自动化
• 年，卷（期）: 2002,（12）
• 页码范围: 69-73
• 页数: 5页
• 分类号: TN47|TN79
• 字数: 4138字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-582X.2002.12.020

摘要

复杂可编程逻辑器件CPLD和现场可编程门列阵FPGA在现代数字系统设计中起着越来越重要的作用,但系统设计中出现的毛刺往往成为系统设计成功与否的障碍.本文介绍了CPLD/FPGA设计中毛刺产生的原因,详细分析了在EDA环境下对毛刺进行判断与定位的原理,论述了利用EDA工具消除毛刺的3种方法与具体实现.通过实例分析表明,借助于功能强大的EDA工具,不仅可以在设计中十分方便地发现毛刺,而且可以精确定位,进而寻找消除毛刺的最佳方法和进行结果的验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何伟	重庆大学通信工程学院	88	1119	16.0	30.0
2	张玲	重庆大学通信工程学院	78	908	14.0	27.0