递归学习寻找对称变量

• 作者: 吕宗伟 张镭 林争辉
• 来源期刊: 上海交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 逻辑集成电路 对称变量 递归学习 测试生成
• 年，卷（期）: 2002,（12）
• 所属期刊栏目: 无线电电子学、电信技术
• 页码范围: 1709-1712
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 字数: 3090字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1006-2467.2002.12.001

摘要

逻辑验证和逻辑综合中,利用对称变量的性质能提高算法整体的效率.通常fxixj=fxjxi被用来检验变量的对称性.一般先分别建立fxixj和fxjxi的BDD(Binary Decision Diagram)二分决策图,然后通过检查两BDD图是否同构来验证fxixj=fxjxi.但将电路转化为BDD图本身就需要一定的时间,而且对于大的电路,存在BDD图不能建立的可能性,致使同构验证无法进行.本文利用递归学习,无需建立BDD图直接在电路拓扑图上验证fxixj=fxjxi.递归学习算法执行效率高,可以大大缩减对称变量检测的过程.试验结果表明,利用递归学习算法检测对称变量执行时间减少,并且能将大的电路作为检测对象.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林争辉	上海交通大学大规模集成电路研究所	116	603	12.0	20.0
2	吕宗伟	上海交通大学大规模集成电路研究所	23	116	5.0	10.0
3	张镭	上海交通大学大规模集成电路研究所	17	57	3.0	7.0