粗糙表面的双相干谱分析

• 作者: 李成贵
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 粗糙度 双谱 双相干谱 谱分析
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 237-241
• 页数: 5页
• 分类号: TH161+.14|TH123+.1
• 字数: 3058字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2003.03.012

摘要

双谱分析是近年发展的一种随机信号的现代分析方法,它保留了信号的相位信息,可以定量描述信号之间的非线性相位耦合;同时具有很强的消噪能力,可以很好地反映信号的非对称特征.正常的加工条件下,表面轮廓符合高斯型分布,因此其双谱为零.但实际加工中,许多表面表现为非高斯型,其双谱不为零,此时可以用双谱分析定量地描述表面轮廓特征的非对称性.然而,用双谱表示灵敏度高、幅值大、不够直观,为了有效地反映表面轮廓的双谱特征,本文采用了双谱的归一化形式双相干谱分析.最后还通过对几种典型试件的实验,证明了其有效性,并得出了一些有益的结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成贵	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	91	890	16.0	25.0