采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度测量的研究

• 作者: 王庆有 蔡锐 马愈昭 齐龙
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 非接触测量 面阵CCD 图像拼接
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 36-38
• 页数: 3页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 1399字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2003.06.011

摘要

采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度的拼接非接触测量,克服了单片面阵CCD测量范围小的缺点,解决了用线阵CCD拼接测量时测量带太窄又不能扩展情况下所带来的问题.面阵CCD进行图像拼接的测量方法,适用于测量128-]35mm的轴径,其测量精度高达±0.01mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王庆有	天津大学精密仪器与光电子工程学院	21	214	8.0	14.0
3	齐龙	天津大学精密仪器与光电子工程学院	21	116	5.0	9.0
7	蔡锐	天津大学精密仪器与光电子工程学院	2	44	2.0	2.0
11	马愈昭	天津大学精密仪器与光电子工程学院	2	44	2.0	2.0