钼单晶的判定及其偏离角的测试

• 作者: 张廷杰 李中奎 郑欣 郭让民 雷新颖
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 钼单晶 取向偏离角 θ扫描旋转法
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 实验技术与方法
• 页码范围: 295-297
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.22+2.1
• 字数: 2659字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2003.06.005

摘要

采用X射线θ扫描旋转法和金相分析相结合的方法,对区熔法生长的钼单晶样品进行了判定和(111)晶面取向偏离角的测试,对钼单晶中的小角晶界进行了观察和分析.在钼单晶中,小角晶界可以在晶内结束,其两边的衬度不能在金相显微镜下区分.钼单晶的I-θ曲线有一对规整的峰,峰的宽度很小,这表明晶界两边的晶粒取向差很小.所测试的钼单晶偏离角为7.6°.上述结果表明,该方法对钼单晶测试和判定具有操作简单、测试快速,对取向偏离角的测试结果准确等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李中奎		121	1120	15.0	28.0
2	郑欣		64	495	9.0	20.0
3	张廷杰		55	1133	18.0	32.0
4	郭让民		6	46	3.0	6.0
5	雷新颖		2	12	2.0	2.0