基于ARM核芯片的嵌入式电动头性能测试系统

• 作者: 刘向阳 李功燕 杨克己 范俊
• 来源期刊: 工程设计学报
• 学科: 工学
• 关键词: ARM 电动头 转矩 测试系统
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 144-148
• 页数: 5页
• 分类号: TH823.4|TP302.1
• 字数: 2961字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3785/j.issn.1006-754X.2003.03.008

摘要

为满足核电站对电动头性能定期检测和实时监控的需要,采用"一加四"的结构形式,研发了一套基于ARM核芯片的嵌入式电动头性能测试系统.系统采用AT91M55800A作为MCU,μc/os-Ⅱ作为RTOS,同时配套研制了一套自标定系统以较正转矩传感器的误差,提高测试精度.通过长时间运行表明,该系统具有高精度、高可靠性、强实时性以及良好性价比等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨克己	浙江大学现代制造工程研究所	60	544	12.0	20.0
2	刘向阳	浙江大学现代制造工程研究所	4	15	2.0	3.0
3	李功燕	浙江大学现代制造工程研究所	4	55	2.0	4.0
4	范俊	浙江巨化集团公司检测中心	1	2	1.0	1.0