有关ASL-1000测试运放V(IO)的补充方案

• 作者: 刘文豫 王卫民
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 输入失调电压 辅助运放 稳定 嵌位 预置电压 失效
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 51-53
• 页数: 3页
• 分类号: TN722.7+7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.03.012

摘要

在运算放大器输入失调电压(V_(IO))的测试中，传统测试设备采用“被测器件-辅助运放”的模式，籍以构成稳定的负反馈网络，从而使DUT的输出电压嵌位于预置电压，而ASL-1000通过独创的电位平衡电路和相位补偿电路同样实现了DUT的输出嵌位，完成了由间接测试向直接测试的转化。针对V_(IO)已经失效的芯片，提出了利用ASL-1000现有的硬件资源，在软件上加严判据的失效筛选方法，作为Credence方案的补充。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王卫民	国电公司南京自动化研究院	3	2	1.0	1.0
2	刘文豫	国电公司南京自动化研究院	1	2	1.0	1.0