基于闭环集成运放的模拟电路模块级软故障诊断

• 作者: 杨士元 王红 胡梅
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 模拟电路 软故障诊断 闭环集成运放 斜率故障模型 模块级
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 页码范围: 29-32,36
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

基于斜率故障模型,提出了一种诊断模拟电路中基于闭环集成运算放大器的模块级软故障的字典法,在由闭环运放组成的模拟电路中,通过对电路以闭环运放及与其输入直接相连的元件看作一个整体划分模块,对各个模块中的任一元件或进行宏模型替代之后的运放等效电路,利用电路中的两节点电压增量计算出的斜率作为统一故障特征,建立故障字典,实现电路中相应模块包含的运放和所有元件的软故障诊断,给出了运放的等效宏模型和模块级软故障的诊断步骤,并用仿真实例证明了该诊断方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨士元	清华大学自动化系	124	1303	17.0	30.0
2	王红	清华大学自动化系	52	388	11.0	18.0
3	胡梅	清华大学自动化系	6	132	5.0	6.0