电子设备的耐久性问题

• 作者: 夏仕昌 康锡章 涂怀宇
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子设备 耐久性 可靠性
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 分类号: O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.02.012

摘要

主要讨论了有关电子设备的耐久性问题和耐久性与可靠性、维修性、保障性的关系以及耐久性的特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康锡章	海军航空工程学院电子工程系	18	117	5.0	10.0
2	夏仕昌	海军航空工程学院电子工程系	5	330	4.0	5.0