面阵探测器的像点亚像素定位研究

• 作者: 卞洪林 王振华 谢伦治
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 面阵探测器 目标像点位置 亚像元精度技术 内差细分算法
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 系统精度研究
• 页码范围: 51-56
• 页数: 6页
• 分类号: TN206
• 字数: 3965字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-3392.2003.02.014

摘要

面阵探测器可直接探测点目标图像的位置,但其定位精度受到探测器分辨率的限制.因此,亚像元精度技术得到了发展.它是利用目标像点的灰度分布特性,通过内插细分算法,确定出像点位置.可将定位精度提高1～2个数量级.本文介绍了几种实现目标像点亚像素定位的内插细分算法.对它们的计算公式、特点进行了分析,并进行了实验验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王振华		11	103	4.0	10.0
2	谢伦治		3	74	1.0	3.0
3	卞洪林		4	96	4.0	4.0