多断口真空开关的动态介质恢复及统计特性分析

• 作者: 丛吉远 廖敏夫 段雄英 邹积岩
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 双断口及多断口真空开关技术 动态介质恢复 击穿弱点 统计特性
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 电机电工
• 页码范围: 82-87
• 页数: 6页
• 分类号: TM561.2
• 字数: 6102字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-8013.2003.02.018

摘要

从双断口真空开关的等值模型出发,分析了双断口真空开关的动态介质恢复过程,说明只要恢复电压的峰值和上升速度低于某一极限值,整个双断口真空开关并不会因为一个灭弧室发生重击穿而导致开断失败.在此基础上,理论推导得到双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增长倍数Kn,同时引入"击穿弱点"概念和概率统计方法,分析建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型和弧后重击穿统计分布模型,它们可以用来有力解释双断口及多断口真空开关与单断口真空开关相比开断能力有显著提高的机理.最后对电场应力x的物理意义进行了讨论,说明实质上代表的是微粒引导真空间隙击穿所需的能量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹积岩	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	230	4552	36.0	53.0
2	廖敏夫	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	94	1211	21.0	29.0
3	段雄英	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	96	2171	27.0	42.0
4	丛吉远	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	27	588	14.0	24.0