多断口真空开关击穿电压增益与统计特性研究

• 作者: 廖敏夫 段雄英 邹积岩
• 来源期刊: 大连理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 真空开关 击穿电压增益 击穿弱点 统计特性
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 电子信息工程、管理工程
• 页码范围: 740-745
• 页数: 6页
• 分类号: TM561.2
• 字数: 4244字
• 语种: 中文

摘要

从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数Kn,同时引入"击穿弱点"概念和概率统计方法,分析建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,发现无论是双断口真空开关还是n个断口串联起来,其击穿的统计概率都要比单断口的击穿统计概率要小.为了进行实验论证,建立了三断口真空开关实验模型,对单断口真空灭弧室模型和三断口真空开关实验模型进行了大量的冲击击穿特性实验.研究表明,三断口真空灭弧室相比单断口真空灭弧室具有更低的击穿概率.试验数据与理论分布曲线基本吻合,证明理论研究结果正确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹积岩	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	230	4552	36.0	53.0
2	廖敏夫	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	94	1211	21.0	29.0
3	段雄英	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	96	2171	27.0	42.0