IP软核的测试技术研究

• 作者: 国海欣
• 来源期刊: 电脑编程技巧与维护
• 学科: 工学
• 关键词: IP软核 VHDL IP核测试 8255 伪穷举法
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 专家论坛
• 页码范围: 40-41,45
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 2798字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4052.2003.08.016

摘要

随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加,片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂.开发IP核成为SOC的重要设计手段.同时,IP核的测试也对科研人员提出了新的挑战.本文重点描述了IP的测试技术,证明了文献[1]中给出的伪穷举法.并以可编程8255并行I/O接口芯片为例说明了使用伪穷举法进行了IP核校验的方法.