最优阈值法检测晶振缺陷

• 作者: 李兵 李焕然 邓善熙
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 缺陷检测 最优阈值 图像分割 晶振
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 可靠性与分析
• 页码范围: 56-57
• 页数: 2页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.08.025

摘要

为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中我们采用的是最优阈值统计算法,实验结果表明该算法能够达到预期的识别目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓善熙	合肥工业大学仪器仪表学院	81	951	19.0	25.0
2	李兵	合肥工业大学仪器仪表学院	68	392	10.0	17.0
3	李焕然		2	16	2.0	2.0