晶振器件电路部分的失效分析研究

• 作者: 杜良桢 田永盛
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 晶体器件 电路 失效分析
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 27-31
• 页数: 5页
• 分类号: TN752.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2010.01.007

摘要

介绍了晶振器件的电路结构,并通过具体的案伪,对晶振器件电路部分的失效现象以及分析流程进行了研究,以确定真正的失效机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田永盛		2	23	2.0	2.0
2	杜良桢		1	12	1.0	1.0