CBGA器件焊点温度循环失效分析

• 作者: 吕晓瑞 唐超 姚全斌 林鹏荣 练滨浩 黄颖卓
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 陶瓷球栅封装阵列 温度循环 菊花链设计 可靠性
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 分类号: TN305.94
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.004

摘要

陶瓷球栅封装阵列(CBGA)器件的陶瓷器件与印制电路板之间热膨胀系数的差异是导致焊点失效的主要因素,其可靠性一直是CBGA封装器件设计时需重点考虑的问题[1].对CBGA植球器件的板级表贴焊点在-55～105 ℃温度循环载荷条件下的失效机理进行了研究,结果表明,CBGA板级表贴器件的焊点的主要失效部位在陶瓷一侧焊料与焊球界面和焊点与焊盘界面两处,边角焊点优先开裂,是失效分析的关键点;随着循环周期的增加,内侧链路依次发生断路失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄颖卓		7	11	2.0	3.0
2	林鹏荣		11	16	3.0	3.0
3	练滨浩		12	18	3.0	3.0
4	姚全斌		8	25	3.0	4.0
5	吕晓瑞		1	2	1.0	1.0
6	唐超		1	2	1.0	1.0