EDA软件中的布局优化算法分析及其改进

• 作者: 战守义 李世平
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟退火 遗传算法 特定用途集成电路 电子设计自动化 现场可编程门电路
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 学术探讨
• 页码范围: 95-97
• 页数: 3页
• 分类号: TP301.6
• 字数: 4623字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2003.03.032

摘要

在深亚微米、超深亚微米工艺水平下的超大规模集成电路设计需要高性能的EDA(电子设计自动化,Electrical Design Automation)软件的支持.与物理设计相关的布图设计中,布局设计是一个极为重要的环节.该文以FPGA(现场可编程门电路,Field Programmable Gate Array)为例,分析和介绍了EDA中的布局算法,然后利用遗传模拟退火算法对原算法提出了改进,并在文章中介绍了改进后的算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	战守义	北京理工大学计算机系	116	1210	19.0	29.0
2	李世平	北京理工大学计算机系	4	49	3.0	4.0