求解贮存失效率的条件中位数算法改进

• 作者: 朱亮 林震 胡斌
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可靠性 贮存失效率 条件中位数 数字仿真
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.02.007

摘要

利用定期检测数据求解贮存失效率是电子产品贮存可靠性研究的重点和难点.条件中位数算法是求解贮存失效率的算法之一,但其估计性能不理想,实际应用并不多见.为了改善条件中位数算法的估计性能,对该算法进行了改进.数字仿真结果显示,改进算法的估计均值和相对估计误差明显优于改进前的条件中位数算法,可广泛地应用于电子产品的贮存可靠性研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林震	中国工程物理研究院电子工程研究所	10	125	5.0	10.0
2	胡斌	中国工程物理研究院电子工程研究所	10	138	4.0	10.0
3	朱亮	中国工程物理研究院电子工程研究所	3	30	2.0	3.0